红外显微镜-迪合光电科技（上海）有限公司

迪合光电科技（上海）有限公司
联系人：迪合光电
传真：021-52260769
地址：上海市宜山路1888号瑞特大厦206室
邮箱：jimmyjiang@smxet.com

产品中心

产品图片

产品名称/型号

产品描述

Vcsel芯片隐裂瑕疵红外无损检测查看详细介绍

Vcsel芯片隐裂（cracks）、InGaAs瑕疵红外无损检测
法拉第激光隔离器查看详细介绍

法拉第激光隔离器胶合偏振片无损检验
die chip ， IC 失效分析查看详细介绍

diechip，IC失效分析
Wafer无损测量查看详细介绍

Wafer正反面定位标记重合误差无损测量
Wafer HgCdTe HgCdTe缺陷无损红外检测查看详细介绍

硅基半导体Wafer、碲化镉CdTe、碲镉汞HgCdTe衬底缺陷无损红外检测
太阳能电池组件综合缺陷红外检测查看详细介绍

对太阳能电池/组件加载电压后，使之发光，再利用近红外相机摄取其发光影像，因电致发光亮度正比于少子扩散长度，缺陷处因具有较低的少子扩散长度而发出较弱的光，从而形成较暗的影像。

共 8 条记录，当前 1 / 2 页首页上一页下一页末页跳转到第页