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缺陷无损红外检测

简要描述:硅基半导体Wafer、碲化镉CdTe、碲镉汞HgCdTe衬底 缺陷无损红外检测

  • 产品型号:Wafer HgCdTe HgCdTe
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2016-11-30
  • 访  问  量:805

详细介绍

硅基半导体Wafer、碲化镉CdTe、碲镉汞HgCdTe衬底 缺陷无损红外检测

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