咨询热线

13501638326

当前位置:首页   >  产品中心  >    >  红外显微镜  >  Wafer HgCdTe HgCdTe缺陷无损红外检测

缺陷无损红外检测

简要描述:硅基半导体Wafer、碲化镉CdTe、碲镉汞HgCdTe衬底 缺陷无损红外检测

  • 产品型号:Wafer HgCdTe HgCdTe
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2023-02-23
  • 访  问  量:1542

详细介绍

硅基半导体Wafer、碲化镉CdTe、碲镉汞HgCdTe衬底 缺陷无损红外检测

产品咨询

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

联系我们

迪合光电科技(上海)有限公司 公司地址:上海市宜山路1888号瑞特大厦206室   技术支持:化工仪器网
  • 联系人:迪合光电
  • QQ:765211337
  • 公司传真:
  • 邮箱:jimmyjiang@smxet.com

扫一扫 更多精彩

微信二维码

网站二维码