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VIEW Pinnacle 250

简要描述:VIEW Pinnacle 250 高产出、高精度尺寸测量系统 EW Pinnacle 250影像测量仪有着非凡的精度和生产率,优异的MTBF性能,以及在同类型自动测量系统中Z低的购置成本。其独特的可编程多色环形灯(PRL)选项运用红、绿、蓝、白LED照明,可轻松应对Z苛刻的应用。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2016-11-30
  • 访  问  量:381

详细介绍

VIEW Pinnacle 250 高产出、高精度尺寸测量系统 EW Pinnacle 250影像测量仪有着非凡的精度和生产率,优异的MTBF性能,以及在同类型自动测量系统中zui低的购置成本。其独特的可编程多色环形灯(PRL)选项运用红、绿、蓝、白LED照明,VIEW Pinnacle 250可轻松应对zui苛刻的应用。型的直性运动控制技术造就了运行速度zui快、zui为可靠的免维护平台,满足从无尘室到工厂车间的生产环境中,大容量、高性能的操作。 可选的软件包增强系统的通用性: CAD 导入(DXF/IGES) 软件 形状拟合和分析软件 离线编程软件 QC-Calc™ Statistical Process Control (SPC) —实时分析和报告软件 Elements™ CAD To Measure测量软件。

特征

测量范围:250 x 150 x 100 mm

- 25公斤承载力

亚微米的光栅尺分辨率

- X-Y无阻力线性马达驱动,平台速度400 mm/

- ZDC伺服回转马达驱动,100 mm/

误差映射:在XY平面非线性二维纠错

双重放大光学系统,固定镜头,内部放大1-4

可编程LED平台背光及同轴表面光照明

可编程多色环形灯(PRL)选项

- TTL激光选项,具有自动聚焦和扫描功能

- SpectraProbeTM  高分辨率彩色传感器选项

先进的图像处理性能,快速、精确、稳健

双通道,数字式,1.4兆像素的单色相机; 4:1的比例

次像素精度: 1/10 - 1/50 pixel

独立的Anthro Cart Operator工作站

强大的测量软件和数据分析工具可供选择

平均无故障工作时间 MTBF ≥ 8,000 小时

 

Benchmark的应用范围包括:
半导体/电子

 BGA, μBGA, CSP, 倒装芯片, MCM, bump-on-die

引线框,引线接合,柔性线路板,连接器

SMT元件贴装 

锡膏/环氧数脂胶点

芯片载体和托盒

喷墨打印机墨盒

光纤组件和MEMs

数据存储

悬置件

滑块和悬臂组(HGA)

磁盘介质基板

精密注塑和机加工件
模具和刀具
医疗设备
燃料喷射部件
手表组件

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